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东莞市天测光学设备有限公司苏州分公司
公司专业从事美国QVI产品、法国Keron 关节臂三坐标测量仪、等国际著名品牌测量仪器...
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VIEW BenchMark 450影像测量仪
BenchMark 450 主要技术参数 XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米Z精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 ( 带TTL激光和可选5倍镜头)英制单位公制单位测量范围18 X18X6450x450x150毫米尺寸48 X45X671210x1140X1700毫米负载能力65千克台面分辨率0.5微米光学双重放大 (物镜 X)低0.81.02.55.010.025.0高3.24.010.020.040.0100.0标配物镜1X可选物镜0.8X,2.5X,5X照明L
2022-03-10
VIEW BenchMark 250影像测量仪
BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米需高分辨率光栅尺) Z 精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(E1=(1.2+5L/1000)微米TTL激光和5倍镜头)英制单位公制单位测量范围12 X6X6300x150x150毫米尺寸28.3 X30.5X38.3720x775X873毫米负载25kg台面分辨率0.5um光学双重放大 (物镜)低倍0.81.02.55.010.025.0高倍3.24.0
2022-03-10
Summit 450/600/800影像测量仪
Summit450/600/800 参数介绍:XY 精度: E2=(2.0+4L/1000)um(E2=(1.5+5L/1000)um 高分辨率刻度尺)Z 线性精度: E1=(1.8+5L/1000)um(E1=(1.4+5L/1000)um TTL激光及可选5X镜头)英制单位公制单位测量范围(Summit 450)18 X18X6450x450x150mm测量范围(Summit 600)18 X24X6450x600x150mm测量范围(Summit 800)30 X31X6760&
2022-03-10
VIEW Benchmark300 影像测量仪
XYZ测量行程:300x300x150 mm/ 300x300x200 mm承载力:30 kg光学镜头:单放大倍率,固定倍率固定镜头光学与工厂可配置的后适配管和现场可互换前置镜头;可选双放大率,具有现场可更换的前置透镜的固定透镜光学测量的相机:200万像素(1628 x 1236)数码单色;彩色和其他相机配置可选照明:可编程L/E/D 照明系统,共轴通过镜头的表面光,平台下的背光,和多色环形光与自动入射角控制网格自动对交系统传感器的选择:T/T/L激光
2022-03-10
MicroLine 300一款桌上型半自动CD测量系统
主要技术参数:◆测量范围(XYZ):标准:20020025mm;可选:300x300x25◆视场内测量精度:10nm(100X 镜头);Z轴ju jiao范围:25 mm◆视场内测量范围:0.5um~400um;◆视场内测量重复性(100x 物镜): 晶圆上0.010um(1); 掩模板上0.005um(1); ◆最大承重:2kg◆标配镜头10x,可选镜头:5X, 20X, 50X, 100X
2022-03-10
1000/2000/3000自动化关键尺寸测量系统
■测量范围(XYZ):100x 100x 175 mm■测量范围(XYZ):200x 200x 175 mm■测量范围(XYZ):300x 300x 145 mm
2022-03-10
VIEW Pinnacle 250影像测量仪
VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着不一样的精度和生产率,优异的MTBF性能,以及在同类型自动测量系统中最低的购置成本。其不一样的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明,可轻松应对最苛刻的应用。最新型的直性运动控制技术造就了运行速度快、可靠的免维护平台,满足从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量、性能佳的操作。可选的软件包增强系统的通用性:l CAD导入(DXF/IGES)软件l 形状拟合和分析软件l 离线编程软
2022-03-10
VIEW Precis 200影像测量仪
全新的Precis 200是基于Micro-Metric的Innova晶圆量测系统开发而来,采用了VMM 公司新的设计和技术。, 新款Precis 包含了很多可配置选项,使设备更加通用,耐用以及可靠。扩展了Z轴范围2.5mm, 5mm or 100mm透射照明完整电子绘图完全符合 SEMI S2 和 CE 标准符合人体工程学的操作员控制台 ,带有隐藏键盘托盘, 可调节高度和角度的控制面板和显示器, SEMI S8 符合全自动显微镜,所有设置计算机控制较佳分辨率像素摄像头VIEW Metrolog
2022-03-10
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