Summit 450/600/800影像测量仪

Summit450/600/800 参数介绍：XY 精度: E2=(2.0+4L/1000)um(E2=(1.5+5L/1000)um 高分辨率刻度尺)Z 线性精度: E1=(1.8+5L/1000)um(E1=(1.4+5L/1000)um TTL激光及可选5X镜头)英制单位公制单位测量范围(Summit 450)18 X18X6450x450x150mm测量范围(Summit 600)18 X24X6450x600x150mm测量范围(Summit 800)30 X31X6760&

VIEW BenchMark 250影像测量仪

BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米需高分辨率光栅尺) Z 精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(E1=(1.2+5L/1000)微米TTL激光和5倍镜头)英制单位公制单位测量范围12 X6X6300x150x150毫米尺寸28.3 X30.5X38.3720x775X873毫米负载25kg台面分辨率0.5um光学双重放大 (物镜)低倍0.81.02.55.010.025.0高倍3.24.0

VIEW BenchMark 450影像测量仪

BenchMark 450 主要技术参数 XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米Z精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公制单位测量范围18 X18X6450x450x150毫米尺寸48 X45X671210x1140X1700毫米负载能力65千克台面分辨率0.5微米光学双重放大 (物镜 X)低0.81.02.55.010.025.0高3.24.010.020.040.0100.0标配物镜1X可选物镜0.8X,2.5X,5X照明L

超高精度的尺寸测量系统

VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件，使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.最先进的线性马达控制技术造就了运行速度最快,最为可靠的免维护平台,满足了从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量,高性能的操作。特征：X,Y,Z 行程 (毫米)：250 x 150 x 50X,Y,Z光栅尺分辨率：XY - 0.05m,零膨胀材料，Z - 0.01m,零膨胀材料平台驱动系统：无摩

大容量运输三轴式测量系统

VIEW Benchmark 624是QVI旗下一款大容量式全自动三轴尺寸测量系统.VIEW Benchmark 624的移动桥式结构和光学可使被测组件始终保持静止状态X,Y,Z行程(mm)：624 x 624 x 150，0.5 m 选项：624 x 624 x 200X,Y,Z光栅尺分辨率：0.5 m，选项： 0.1m工作台驱动系统：直流伺服马达XYZ,单一Y轴驱动和Y轴光栅尺双Y-轴驱动及Y轴光栅尺Zui da速度：X,Y - 200mm/秒;Z - 100 mm/秒Zui da承载量：50 kg均

一款稳定可靠的大行程非接触式计量系统

QVI旗下VIEW Benchmark XLT是一款稳定可靠的大行程非接触式计量系统XLT拥有从900毫米X1500毫米到1500毫米X2000毫米的延伸行程范围，可以测量大面积组件和多个小组件的组合群体。其先进的光学,照明,以及图像处理功能使XLT成为世界yi流的计量系统.移动桥式设计功能为取放产品提供了一个开放式工作区域.先进的图像处理功能，确保高速，高精度和高稳健性能强大的计量软件和数据分析工具可供选择高精度光学系统.X,Y,Z行程(mm)900 x 1500